【無料オンラインイベント】半導体パラメトリック・アナライザオンラインデモ週間のご案内（キーサイト・テクノロジー）｜2026年11月9日（月）～11月13日（金）

本イベントでは、1社様限定のオンライン会議を通じて半導体測定のためのソリューション紹介と製品デモをご覧いただけます。材料、半導体、デバイス特性評価等で頻繁に用いられる半導体パラメトリック・アナライザですが、デバイスの高速化や微細化に伴い、従来のIV評価だけでなくCV評価、高速評価、信頼性評価等、様々な評価が求められるケースが増えてきました。
また、設備更新に当たって技術面、オペレーション面で種々お悩みを抱えられる方も少なくありません。半導体評価の経験を積んだキーサイトのエンジニアが、オンライン会議を通じて半導体測定のトレンドとテクニックをご紹介します。
測定のお悩み相談や、設備更新の検討材料としてご活用ください。

開催概要

イベント事前申込について

イベント参加には事前申込が必要です。
下記申し込みフォームからご登録をお願いいたします。

※本イベントはエンド・ユーザ企業様を対象としております。
※同業他社様およびフリーメールアドレスからのお申し込みはご遠慮いただく場合がございますので、あらかじめご了承ください。

※「普段お付き合いのあるキーサイトの営業担当名、もしくは契約販売店の営業担当名をお知らせください。」の欄に”日本電計”とご記入ください。

ご相談窓口

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日本電計株式会社 イベント事務局
受付時間：9:00〜17:00（土日祝日は除く）