AIデータセンターの発展に伴い、高速デジタルインタフェースによる大容量データ伝送技術の需要と要求が加速しています。その性能と信頼性を確保するためには、最先端の計測技術による正確な評価が欠かせません。本セミナーでは、高速デジタルシステムの開発・評価に携わるエンジニアを対象に、最新の測定ソリューションを二部構成でお届けします。第一部では、AIデータセンター向けの電子機器で採用が進む高速デジタルインターフェース(PCIeやDDRメモリ等)を取り上げ、第二部では、より本質的な品質改善の指標となるSI/PIの課題を整理し、測定器によるPI関連評価を中心に実践的な測定手法をご紹介します。AI時代のシステム開発を支える測定技術をぜひご覧ください。

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