

電源回路は、近年の目覚ましい技術進化とニーズの多様化に伴い、改めて注目を集めています。電源回路は電子機器の基本的な要素であることから、安全面・性能面からも安定した動作が強く求められます。この回路の安定性を定量的に評価するには、周波数特性分析器(Frequency Response Analyzer)を用いたループ・ゲイン特性の測定が有効です。本セミナーでは、電源回路の測定デモンストレーションを交えて、ループ・ゲイン特性の測定方法をわかりやすく解説します。
| 開催概要 |
| セミナー名 |
周波数特性分析器を使った電源制御ループの安定性評価 |
| 対象者 |
・電源評価を行っている、または行う予定の方 |
| 講 師 |
株式会社エヌエフ回路設計ブロック 山上 麻里子 氏 |
| 開催日時 |
2026年8月19日(水)9時~8月25日(火)17時 |
| 会 場 | Webセミナー(オンデマンド) ※本セミナーはネクプロ社のWebセミナーサービスを使用します。 ブラウザで閲覧可能ですので、ソフトウェアのインストールなどは不要です。 【ご利用環境は右記で確認いただけます。 https://v2.nex-pro.com/live_check/n-denkei 】 |
| 共 催 |
株式会社エヌエフ回路設計ブロック |
| 参加費・定員 | 参加費:無料 事前登録制:個人事業主、同業者のご登録をご遠慮いただいております。 |
| 当日のタイムテーブル |
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開催時間 約45分予定 |
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| アジェンダ |
1.周波数特性分析器とは? |
| セミナー事前申込について |
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