材料、半導体、デバイス特性評価等で頻繁に用いられる半導体パラメータアナライザですが、
デバイスの高速化や微細化に伴い、従来のIV 評価だけでなくCV 評価、高速評価、信頼性評価等、様々な評価が求められるケースが増えてきました。また設備更新に当たって技術面、オペレーション面で種々お悩みを抱えられる方も少なくありません。
本イベントでは1 社様限定のオンライン会議を通じて半導体測定のためのソリューション紹介と製品デモをご覧頂きます。
設備更新の検討材料としてご活用ください。
開催概要
| イベント名 | 半導体パラメトリック・アナライザ オンラインデモ週間 |
|---|---|
| ご紹介機器 |
|
| イベント内容 |
|
| 主催 | キーサイト・テクノロジー株式会社 |
| 開催日程 |
2026年6月22日(月)〜6月26日(金) |
| 時間帯 |
1日つき、3枠(全15枠) |
| 形式 | オンライン形式。 |
| 参加費 | 無料(事前登録制) |
| 定員 | 先着順となります。 ※1つの時間枠につき、1社限定でのご案内となります。 |
イベント事前申込について
イベント参加には事前申込が必要です。
下記申し込みフォームからご登録をお願いいたします。
※本イベントはエンド・ユーザ企業様を対象としております。
※同業他社様およびフリーメールアドレスからのお申し込みはご遠慮いただく場合がございますので、あらかじめご了承ください。
※「普段お付き合いのあるキーサイトの営業担当名、もしくは契約販売店名(本イベントを案内した販売店)をお知らせください。」の欄に”日本電計”とご記入ください。
ご相談窓口
本イベントに関するお問い合わせは下記までお気軽にご相談ください。
日本電計株式会社 イベント事務局
Eメールアドレス infoma@n-denkei.co.jp 受付時間／9:00〜17:30（土日祝日は除く）
【無料オンラインイベント】半導体パラメトリック・アナライザ オンラインデモ週間(キーサイト・テクノロジー)
材料、半導体、デバイス特性評価等で頻繁に用いられる半導体パラメータアナライザですが、デバイスの高速化や微細化に伴い、従来のIV 評価だけでなくCV 評価、高速評価、信頼性評価等、様々な評価が求められるケースが増えてきました。また設備更新に当たって技術面、オペレーション面で種々お悩みを抱えられる方も少なくありません。本イベントでは1 社様限定のオンライン会議を通じて半導体測定のためのソリューション紹介と製品デモをご覧頂きます。設備更新の検討材料としてご活用ください。
開催概要
| イベント名 | 半導体パラメトリック・アナライザ オンラインデモ週間 |
|---|---|
| ご紹介機器 |
|
| イベント内容 |
|
| 主催 | キーサイト・テクノロジー株式会社 |
| 開催日程 | 2026年6月22日(月)〜6月26日(金) |
| 時間帯 |
1日つき、3枠 10:00〜12:00、13:00〜15:00、15:30〜17:30 (全15枠) |
| 形式 | オンライン形式。 |
| 参加費 | 無料(事前登録制) |
| 定員 | 先着順となります。 ※1つの時間枠につき、1社限定でのご案内となります。 |
イベント事前申込について
イベント参加には事前申込が必要です。
下記申し込みフォームからご登録をお願いいたします。
※本イベントはエンド・ユーザ企業様を対象としております。
※同業他社様およびフリーメールアドレスからのお申し込みはご遠慮いただく場合がございますので、あらかじめご了承ください。
※「普段お付き合いのあるキーサイトの営業担当名、もしくは契約販売店(本イベントを案内した販売店)をお知らせください。」の欄に”日本電計”とご記入ください。
ご相談窓口
本イベントに関するお問い合わせは下記までお気軽にご相談ください。
日本電計株式会社 イベント事務局
Eメールアドレス infoma@n-denkei.co.jp
受付時間／9:00〜17:30（土日祝日は除く）
