次世代エネルギー社会を支えるパワーエレクトロニクス最前線
～最新技術トレンドから実践的な計測課題の解決まで～

・パワエレ設計に携わる現場エンジニアおよび管理職の方
・日々の業務において計測でお困りごとがあり、直接エンジニアに相談されたい方
・将来的な課題解決や技術者育成のため情報収集されたい方

・東京科学大学 工学院　藤田 英明 先生
・テクトロニクス アプリケーション・エンジニア　池田 一樹 氏
・テクトロニクス アプリケーション・エンジニア　岡田 信孝 氏

2026年6月25日(木)13:30 ～17:00　受付開始13:00
セミナー事務局お問い合わせ時間：平日9:00～17:00（土曜・日曜・祝日除く）

テクトロニクス社 

開催期間：2026年6月25日(木)13:30～17:00 受付開始13:00

【特別講演】　東京科学大学 工学院 　藤田 英明 氏
高パワー密度・高効率化を実現するパワーエレクトロニクス機器開発の理論と実践

グリーントランスフォーメーション（GX）の実現に向け、再生可能エネルギーや電動化を支えるパワーエレクトロニクス技術の重要性が高まっています。本講演では、最高効率99.8%を達成したSiCインバータや薄膜太陽電池向けパワーコンディショナの開発事例をもとに、高効率化・高電力密度化を実現する回路方式、制御技術、損失低減手法について、理論と実践の両面から解説します。また、高周波化によるスイッチング損失・鉄損の考え方や、パワーエレクトロニクス機器における効率の本質についても議論します。

□SiCインバータ開発事例にみる高効率化・高密度実装の課題
□太陽光発電用パワーコンディショナの回路方式と低損失化
□高周波化でスイッチング損失・鉄損は本当に増えるのか？
□パワーエレクトロニクスの「効率」を改めて考える
＊質疑応答のお時間を設けております。時間の関係上、すべてのご質問にお答えできない場合がございます。あらかじめご了承ください。

テクトロニクス アプリケーション・エンジニア 池田 一樹 氏
SiC/GaN等の次世代パワーデバイス評価と最新測定ソリューション 

高性能・省エネルギー化が進む次世代パワーデバイスの評価には、精密なスイッチング特性の測定が不可欠です。本セミナーでは、パワーデバイスにおけるスイッチング・パラメータを測定・評価する手法であるダブル・パルス・テストの基本と従来手法における課題を整理し、より効率的で正確な評価を可能にする最新の測定ソリューションを紹介します。急速に進化するパワーデバイス市場に対応するための実践的な知識が得られる内容となっております。
＊質疑応答のお時間を設けております。時間の関係上、すべてのご質問にお答えできない場合がございます。あらかじめご了承ください。

テクトロニクス アプリケーション・エンジニア 岡田 信孝 氏
電源の選び方からアプリケーション事例まで紹介！電動化時代の大電力評価課題と最新ソリューション

近年、電動化の進展に伴い、太陽光発電、蓄電システム、バッテリなど、さまざまな分野で大電力を扱う機器やシステムの需要が高まっています。大電力評価においては、評価装置の大型化による設置スペースの制約や、高電力試験時の熱の発生などが重要な課題となります。
本セミナーでは、ベンチ評価から大電力評価に適した電源の種類や選定ポイントを解説し、評価システムの機器構成例やアプリケーション事例を取り上げます。電動化時代に求められる高効率・高信頼性の評価環境を構築するためのヒントを得られる内容となっています。
＊質疑応答のお時間を設けております。時間の関係上、すべてのご質問にお答えできない場合がございます。あらかじめご了承ください。

【実機デモを見て触れて相談できる！展示コーナー】
セミナー会場内には、実機をご体験いただけるコーナーを設置いたします。
日々の業務で気になる点やご相談事項がございましたら、スペシャリストが対応いたしますので、休憩時間やセミナー終了後にぜひお立ち寄りください。
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▼展示予定機器​
□4/5シリーズMSOオシロスコープと絶縁プローブを用いたダブルパルステストソリューション
□6.5桁の電流計を内蔵した​2450型SMU
□タブレット型オシロスコープ2シリーズMSO
□モジュール型電源/SMU MP5000シリーズ
□ハイパワーソリューション向け高効率電源EAシリーズ
　など