IEC 61000-4-2 第2版（2008年）の発行から17年を経て、
各国での適用や技術課題を踏まえた審議が10年以上続き、本年3月に第3版が改正発行されました。
今回の改正では、新しい試験パラメータや校正方法の追加、ウェアラブル機器など
多様な製品への対応が盛り込まれ、実務に直結する内容となっています。
本セミナーでは、改正点を整理するとともに、その背景となる審議や課題について解説します。

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