摩耗・亀裂・故障を、早期に捉えられるAE(アコースティック・エミッション)計測は、
素材の耐久性評価試験や、金属加工などの製造工程における予知保全などに注目されています。
また、検出された異常を適切に通知・表示して「見える化」するためには様々な課題があります。
本セミナーではAE計測の概要と活用事例を株式会社エヌエフ回路設計ブロックから、
「見える化」の重要性と信号灯を活用した様々な現場の「見える化」ソリューションを株式会社パトライトからご紹介します。
開催概要 |
セミナー名 |
「もう設備トラブルで悩まない!」AE計測×信号灯のW効果で設備の見える化を加速させるセミナー |
対象者 |
・これからAEを使ってみたい方(予知保全、故障検知) |
講 師 |
株式会社エヌエフ回路設計ブロック 佐藤 公治 氏 |
開催日時 |
2025年4月17日(木)9:00~23日(水)17:00 |
会 場 | Webセミナー(オンデマンド) ※本セミナーはネクプロ社のWebセミナーサービスを使用します。 ブラウザで閲覧可能ですので、ソフトウェアのインストールなどは不要です。 【ご利用環境は右記で確認いただけます。 https://v2.nex-pro.com/live_check/n-denkei 】 |
共 催 | 株式会社エヌエフ回路設計ブロック/株式会社パトライト |
参加費・定員 | 無料(事前登録制) |
当日のタイムテーブル |
配信時間 約55分 | |
アジェンダ |
1. AE計測とは(株式会社エヌエフ回路設計ブロック) |
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