【無料セミナー：NI 】2024年5月15日(水) 13時～　計測技術フォーラム

NIのテストバリュー、LabVIEWの最新情報、ハードウェアプラットフォーム、
アプリケーションにおけるドメイン技術について、価値ある情報を共有いたします。
テストの複雑化や開発期間の短縮要求などの課題に直面していませんか？
NI製品を用いることでテストワークフローの合理化、コスト削減、パフォーマンスの向上が見込めます。

開催概要

セミナー名	計測技術フォーラム
対象者	・測定、実験機器の選定をされる方・計測や試験の自動化をご検討中の方・ソフトウェアを用いた効率的な試験、計測、テストの方法を知りたい方・オシロスコープやデータロガーの機能特性を知りたい方・実験機器の測定、制御系のセットアップに工数がかかっている方
講　師	基調講演：木村　直樹氏 (Regional Sales Director) LabVIEWの最新情報：立木　智也氏 (Staff Technical Support Engineer) DAQ の基礎：北島　瑶久氏 (Senior Technical Support Engineer) PXIの世界へ：立木　智也氏 NIオシロスコープ：北島瑶久氏
開催日時	2024年5月15日(水)　13時～ 17時
会　場	日本電計株式会社 NDビル 10階〒110-0005　東京都台東区上野5-14-12 アクセスマップ
共　催	日本NI
参加費・定員	参加費：無料（事前登録制）定員：60名お席には限りがございますのでお早目にお申込みください。

当日のタイムテーブル

スケジュール

5月15日(水)　
12時30分～ 17時

12:30 – 　　　開場

13:00 – 13:30 　受付

13:30 – 14:00 　基調講演 – NIのパフォーマンスと利点
　　　　　　　　　講師：木村　直樹氏 (Regional Sales Director)

14:00 – 14:30 　LabVIEWの最新情報
　　　　　　　　　講師：立木　智也氏(Staff Technical Support Engineer)

14:30 – 15:10 　 DAQ の基礎 – 熱電対、ロードセル、加速度計の測定
講師：北島　瑶久氏(Senior Technical Support Engineer)

– 休憩 – 20min –

15:30 – 16:10 　 PXIの世界へ
　　講師：立木　智也氏

16:10 – 16:45 　 NIオシロスコープで信号解析を最適化する3つの方法
　　講師：北島瑶久氏

16:45 – 17:00 　閉会

セミナー事前申込について

セミナー参加には事前申込が必要です。
下記申し込みフォームからご登録をお願いいたします。
※セミナーへのご参加をお断りさせていただく場合がございます。
　参加お断りのご連絡は、5月13日までにご登録いただいたメールアドレスに配信いたします。

※本セミナーはエンド・ユーザ企業様を対象としております。
※同業他社様およびフリーメールアドレスからのお申し込みはご遠慮いただく場合がございますので、あらかじめご了承ください。

【個人情報のお取り扱いについて】
※お申込みボタンを押すことで、今後開催されるセミナーや、製品・サービス等のご紹介を目的として、
セミナー主催者、共催者が下記から送信された個人情報を保管・処理することに同意したものとみなされます。

ご相談窓口

本セミナーに関するお問い合わせは下記までお気軽にご相談ください。

日本電計株式会社セミナー事務局
Eメールアドレス　infoma@n-denkei.co.jp
受付時間：9:00〜17:00（土日祝日は除く）