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⾮破壊でナノメートル以下迄の3次元測定を可能にする超⼩型AFM
SEM や旧来のAFM に変わる次世代のAFM。測定ワークにダメージを与えず、正確な3次元測定がスキ... 続きを見る
1視野(ワイヤ100本程度)あたり1秒程度で!高速検査が可能!
画像処理によってボンディングワイヤの高さとボンディング部分形状を自動測定。
X線画像処理により電池内部の極板巻き状態を自動検査します。
正極と負極の極番を個別認識しその個数とズレ量を自動測定します。2式の画像処理装置がペアとなり個別にX... 続きを見る
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